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【ITBEAR科技資訊】4月9日消息,三星電子最近取得了技術上的重大進展。公司高層近日宣布,他們已經成功完成了16層混合鍵合HBM內存技術的驗證,并已經制造出了基于此技術的16層堆疊HBM3內存樣品。該樣品已經通過了測試并表現正常,預示著未來16層堆疊混合鍵合技術將被運用到HBM4內存的量產中。

混合鍵合技術,這種新興的內存連接方式,相比傳統工藝有著諸多優勢。它不再需要在DRAM內存層間添加凸塊,而是通過銅對銅的直接連接來實現層間互聯,從而顯著提升了工作效率。此外,該技術不僅大幅提高了信號傳輸速率,滿足了AI計算對高帶寬的迫切需求,還有效地縮短了DRAM層間距,顯著降低了HBM模塊的整體高度,進一步提升了集成度和便攜性。

據ITBEAR科技資訊了解,雖然混合鍵合技術的成熟度和成本問題一直是行業內關注的焦點,但三星電子已經采取了多元化策略來應對這些挑戰。在積極研究混合鍵合技術的同時,公司還在開發傳統的TC-NCF工藝,以實現技術多元化,分散風險,并提升整體競爭力。

三星:已完成16層混合鍵合HBM內存驗證 整體高度縮減

三星已經將目標設定為將HBM4中的晶圓間隙縮減至7.0微米以內,這將為HBM4的性能和可靠性帶來進一步的提升,為未來計算應用打造更堅實的基礎。

對此,行業專家普遍認為,三星在16層混合鍵合堆疊技術上的這一重大突破,將極大地推動HBM內存技術的發展,并為未來計算應用提供更為強大的內存支持。

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標簽:三星電子 混合 驗證 技術壁壘 內存
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