長江存儲日前新增多條專利信息，其中一條名稱為“集成電路測試設備及其測試方法”，公布號為CN115078971A。
專利摘要顯示，本申請提供了一種集成電路測試設備及其測試方法。包括：接收第一指令，第一指令指示對至少一個目標被測器件執行測試操作；響應于第一指令，產生驅動信號集和選擇信號；基于選擇信號，結合第一映射表，確定多個被測器件組中每個測試通道的狀態，狀態包括使能狀態、去使能狀態其中之一；第一映射表包括測試通道與被測器件組、被測器件的待控管腳、選擇信號之間的對應關系；每個被測器件組中的每個被測器件均具有對應的選擇信號；根據驅動信號集，結合第二映射表，使得測試通道輸出驅動信號；第二映射表包括多個被測器件的多個待控管腳與驅動信號集中的多個驅動信號之間的對應關系；利用驅動信號，對目標被測器件執行測試操作。
【來源：集微網】
